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Figura 1

Insecto (detalle), imagen adquirida por electrones retrodispersados (BSE) en bajo vacío (30Pa). SEM JSM IT300, 850X. Orlando Hernández. Laboratorio de Microscopía. ENES-UNAM, Unidad Morelia.

Figura 2

Material superconductor, imagen adquirida por electrones secundarios (SE) en alto vacío. SEM JSM IT300, 5000X, Orlando Hernández. Laboratorio de Microscopía. ENES-UNAM, Unidad Morelia.

Figura 3

Fibras poliméricas, imagen adquirida por electrones secundarios (SE) en alto vacío. SEM JSM IT300, 2000X, Orlando Hernández. Laboratorio de Microscopía. ENES-UNAM, Unidad Morelia.

Figura 4

Micro-partículas de Silicio, imagen adquirida por electrones secundarios (SE) en alto vacío. SEM JSM IT300, 2000X, Orlando Hernández. Laboratorio de Microscopía. ENES-UNAM, Unidad Morelia.

 

Última actualización: 5 marzo, 2015