Equipo

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Microscopio electrónico de barrido JEOL JSM-IT300

JEOL-JSM-IT300

CARACTERÍSTICAS

  • Doble detector EDS a 35º opuestos 180º.
  • Platina motorizada en los 5 ejes con movimiento eucéntrico a cualquier distancia de trabajo.
  • Lentes tipo Zoom: foco y área de interés siempre óptimos al variar cualquier parámetro.
  • Navegación de la muestra con imagen en colores.
  • Cámara de observación y porta-muestras grandes. Pueden introducirse muestras grandes y pesadas, 200 mm de ancho x 80mm de alto, con capacidad de soporte de hasta de 2 kg.
  • Presión Extendida. Intervalo de presión extendida (hasta 650 Pa). En el modo de bajo vacío, ésta propiedad incrementa la capacidad de observación para muestras húmedas, que liberen gases en exceso o muestras no conductoras sin recubrimiento.

OBSERVACIÓN DE MUESTRAS

  • Observación por electrones secundarios (SE)
  • Observación por electrones retrodispersados (BSE)
  • LV-SEC: Detector de Electrones Secundarios en el modo de Bajo Vacío 
    • Este detector permite una mejor resolución espacial cuando se trabaja en el modo de bajo vacío.
  • Observación en Platina de Enfriamiento.
    • Sistema de enfriamiento que cubre el intervalo de temperatura de -30ºC a 50°C.
    • Útil para controlar la evaporación de agua en muestras húmedas, además de minimizar los cambios en la estructura por efecto del vacío.

ANÁLISIS

Microanálisis por dispersión de energía de rayos X (EDS).

  • La implementación de 2 detectores provee de análisis más precisos  así como mapeos elementales libres de zonas oscuras.

Especificaciones Técnicas

microscopio-esp-tecnicas

Equipo de preparación de muestras

  • Evaporadora de oro
  • Evaropadora de carbono

evaporadoras

Secadora de punto crítico

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Última actualización: 5 febrero, 2016